Sprawna identyfikacja oraz możliwość określenia koncentracji pierwiastków to jedne z niezaprzeczalnych korzyści płynących z zastosowania skaningowej mikroskopii elektronowej oraz fluorescencji rentgenowskiej.
W naszym Laboratorium znajdują się dwa niezwykle przydatne urządzenia w analizie materiałów. Zarówno skaningowy mikroskop elektronowy Penom ProX, jak i mikroskop X-Ray, są niezwykle przydatne w analizie próbek metalicznych.
Oznaczenia
Fluorescencja rentgenowska XRF
W przypadku tej metody, możliwe ilościowe i jakościowe oznaczanie składu pierwiastkowego. XRF Stosujemy głównie do badania jakości nałożonych powłok: grubości oraz składu stopowego. Można również określić stężenia metali w kąpielach. Urządzenie mierzy grubość takich powłok jak: cynk na stali, cynk-nikiel na stali oraz szlachetne powłoki z miedzi, niklu, chromu, srebra, złota. Warto zaznaczyć, że metoda jest nieniszcząca.
Skaningowy mikroskop elektronowy (SEM)
Mikroskop ten pozwala na uzyskanie obrazów w powiększeniu do 150000x. Dzięki zastosowaniu detektorów BSE i SE otrzymujemy bardzo dokładną strukturę obserwowanej powierzchni. Urządzenie jest przeznaczone przede wszystkim do jakościowej oceny stopów, nałożonych powłok, jak i detali poddawanych obróbce galwanotechnicznej. Do badania najbardziej odpowiednie są próbki po uprzednim przygotowaniu (zgład) – taką preparatykę również jesteśmy w stanie wykonać w naszym Laboratorium. Próbki mieszczące się na uchwycie mikroskopowym, o wymiarach do 2/2cm podlegają analizie nieniszczącej. Próbki o większych wymiarach przycinamy do odpowiednich rozmiarów.